SWT-9000F膜厚计,TEITSU帝通电子研究所

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  • SWT-9000F膜厚计,TEITSU帝通电子研究所
  • TEITSU帝通电子研究所
  • SWT-9000F
  • 日本
  • 现货
  • 该仪器操作简便可单手操作,无需电源开关,使用时只需将探头放置在被测体仪器上自动开机进行测量。 如果您对我们的产品感兴趣的话请联系我们,可以了解更多膜厚计的相关消息。

产品详细介绍
SWT-9000F膜厚计
●测量范围是0 ~ 2.5毫米
●零标准调整就可以测量
用途:
●涂装/衬里/镀金
●涂装一般
参数:
测量范围
0 ~ 2.50毫米
表示分辨率
1μm:0~999μm
切换0.1μm:0 ~ 400μm
0.5μm:400~500μm
0.01毫米:1.00〜2.50毫米
测量精度
均匀方面对
0 ~ 100μm:±1μm或指示值的±2 %
101μm〜2.50毫米:±2%以内
表示方式
CD数码表示
内存
标准曲线×1
探针
一点恒压接触式,V切割付,φ13毫米×48
电源
单3电池(1.5 V)×2自动パワーオフ
使用温度
0 ~ 40℃(不得结露)
尺寸重量
72(W)×30(H)×156(D)毫米,约270克
附件
标准厚板,考试用零板、收纳盒