SWT-9000F膜厚计,TEITSU帝通电子研究所
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- SWT-9000F膜厚计,TEITSU帝通电子研究所
- TEITSU帝通电子研究所
- SWT-9000F
- 日本
- 现货
该仪器操作简便可单手操作，无需电源开关，使用时只需将探头放置在被测体仪器上自动开机进行测量。 如果您对我们的产品感兴趣的话请联系我们，可以了解更多膜厚计的相关消息。
产品详细介绍
SWT-9000F膜厚计
●测量范围是0 ~ 2.5毫米
●零标准调整就可以测量
用途：
●涂装/衬里/镀金
●涂装一般
参数：
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测量范围
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0 ~ 2.50毫米
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表示分辨率
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1μm：0～999μm
切换0.1μm：0 ~ 400μm
0.5μm：400～500μm
0.01毫米：1.00〜2.50毫米
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测量精度
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均匀方面对
0 ~ 100μm：±1μm或指示值的±2 %
101μm〜2.50毫米：±2%以内
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表示方式
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CD数码表示
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内存
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标准曲线×1
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探针
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一点恒压接触式，V切割付，φ13毫米×48
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电源
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单3电池（1.5 V）×2自动パワーオフ
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使用温度
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0 ~ 40℃（不得结露）
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尺寸重量
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72（W）×30（H）×156（D）毫米，约270克
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附件
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标准厚板，考试用零板、收纳盒
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