UDM-1200,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所
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- UDM-1200,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所
- TEITSU帝通电子研究所
- UDM-1200
- 日本
- 现货
该仪器操作简便可单手操作，无需电源开关，使用时只需将探头放置在被测体仪器上自动开机进行测量。 如果您对我们的产品感兴趣的话请联系我们，可以了解更多厚度计的相关消息。
产品详细介绍
UDM-1200超音波膜厚计
特征：
●各种平顶材料上厚度测量OK
变质硅系，硅系，聚氨酯系等成分形状的东西，2成分系也去泡了东西的话全部平顶材料上厚度测量。
●接缝底的变形的影响
备份材料澎湃接缝深度变化的场合任何测量没有影响。另外，倾斜状接头深度变化的场合，底部的倾斜15度的程度的话可以测量。
●口袋的类型，携带方便
本体重量仅有290克轻了现场作业的性富，到哪里都可以轻松的携带。
●备份材料种类的影响
没有备份材料债券，断路器一、平板状备份材，圆棒状备份材料等全部的条件测量可能。
●测量条件的设定简单
麦克风口处理器内置操作触摸按键，只需按下测量条件的设定简单地能进行。
●选择功能
任何价值，其设定值作为基准的差距可以显示（DIF功能)。
规格以及性能：
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表示方式
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液晶数字方式
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测量方法
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脉冲反射方式（一探触子法）
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使用周波数
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5MHz
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表示位数
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3位数
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最小单位
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0.1毫米
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测量范围
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2.5～40毫米（平顶材料）
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误差范围
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±0.5毫米
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音速调整范围
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500～9999 m / sec
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表示次数
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2次/ sec
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照明灯具
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EL背照灯方式
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自动切割
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测量中断后，约5分钟
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耦合标志
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表示部马克表示
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口―电池表示
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表示部马克表示（BATT）
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选择功能
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任意设定其设定值作为基准的差距的表示（DIF功能）
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电源
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DC1.5 V（单3碱干电池）一书
工作时间：约30小时以上
EL照明点灯时：约20时间以上
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使用温度范围
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-10℃～＋50℃
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外形尺寸
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W66×H140×D28mm
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重量
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约290克探针约50克
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